IPFA 2009IEEE国际半导体失效分析与可靠性大会

IPFA是半导体领域失效分析与可靠性的国际上等会议。为培养失效分析与可靠性恒温恒湿试验箱技术人才，满足国内外半导体方面专业人员技术提高的愿望，建立国际相关行业信息与技术交流平台，解决相关企业遇到失效分析与可靠性问题时的疑点和盲区、打破理论与实际脱钩的窘境、达到失效现象与失效原因直接挂钩、提高产品可靠性的效果，我们特决定在苏州举办此次面向国际的IE恒温恒湿试验箱EE国际半导体失效分析与可靠性培训。

本次培训特别邀请15位来自中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国及地区专家作培训讲座与技术交流，具体事宜通知如下：

时间：2009年7月6日-10日苏州独墅湖高教区

参加对象：失效分析工程师、可靠性工程师、研发与工程技术人员、质量工程师、工艺工程师、制造工程师、设计工程师、供应商管理工程师、研发/工程/采购/质量经理、研究员、相关专业教授、博士生、研究生等。

承办执行单位：华碧检测（FA LAB）

承办执行一家协助单位：北京怀远文化传媒有限公司

培训证书：IEEE IPFA2009技术委员会培训证书/中国电子电器可靠性工程协会培训证书

注：IPFA2009介绍

第16届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议（IPFA2009）由IEEE南京分会主办，IEEEReliability/CPMT/ED新加坡分会协办、由IEEE 电子器件协会与IEEE可靠性协会提供技术支持。IPFA2009是在中国举办的有关集成电路与器件方面规模*大、影响*大的国际会议。会议将为期五天，包括两天的技术培训讲座、三天的论文发表与研讨技术交流，同时并行三天的设备展览。

注:详细内容和报名表请邮件或电话索取资料.

如果您需要咨询，请联系IPFA 2009组委会秘书处，邮箱：hywh@ceeacea.org.cn 或者致电010-67642668，010-52259806. 欢迎登陆网址：http://www.ceeacea.org.cn 以寄信日期，发送邮件或传真日期为准。

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